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例句：
1
Define
test
methodology
(
SCAN
,
BIST
,
JTAG
etc.
)
for the
entire
chip
.
Test
pattern
generation
and
optimization
.
制定
芯片
整体
测试
方法
（
SCAN，BIST，JTAG
等
）
。
制定
和
优化
测试
模式
。
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